一、用万用表测量内存芯片的方法
在主板与内存的数据引脚是64个， D0-D63， 为了保护内存的数据位脚， 在D0-D63这64个数据位脚都加有一个阻值不大的电阻起限流作用。 而测试仪主要的原理是用程序重复测试内存芯片的每个数据位引脚， 看有没有击穿或短路的数据位引脚， 还有就是芯片的时钟引脚、地址引脚。 所以用万用表测试芯片时也可用测试仪的方法来测， 只要红笔对地， 黑笔测量排阴阻的阻值， 就是内存芯片数据位的阻值来判断是哪个芯片坏了， 正常的话每个数据位阻值相同。 但还是没有测试仪那么直观， 用这种方法可测量DDR内存芯片的好坏。
二、 用测试仪测量内存芯片方法
根据使用说明书， 测量的内存在2A、2B这里， 指单组和双组的意思。 但16位的芯片有8个， 也相当于是两组， 8位的芯片有16个也相当于两组。
2A为第二组， 2B为第一组。
测量时会循环测试每一组中的每一个芯片的数据位脚。 一般测了3次—5次没坏就是好的。 好的芯片为：PA 。 坏的芯片就显示出坏的数据位引脚。
1、 开机跳不进测试， 一般有：芯片短路、PCB板短路。 解决方法为把芯片拆下来换到好的PCB板上试芯片好坏。
2、 内存测试仪不测试 D芯片， D芯片可有可无。
3、 金手指烧了的话也不能测试， 必须把芯片拆下换到好的PCB板上试芯片好。
